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阻抗测试仪 IM3570

简要描述:阻抗测试仪 IM3570实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量基本精度±0.08%的高精度测量适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新快照:2021-04-20
  • 访  问  量:1284

详细介绍

品牌其他品牌产地类别国产
应用领域电子
microtest

元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)

阻抗分析仪IM3570

 

 

 

  

 

CE标配

GP-IB

GP-IB
标配

GP-IB
标配

RS-232C
 

标配

 

 

           
 

 

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

 

阻抗测试仪 IM3570

 

  • 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
  • LCR模式下0.5ms100kHz)的高速测量
  • 基本精度±0.08%的高精度测量
  • 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCRL-Q的测量
  • 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

 

 

阻抗测试仪 IM3570主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

 

 
 
 

 

基本参数

测量模式

LCRLCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数

ZYθRsESR)、RpRdc(直流电阻)、XGBCsCpLsLpDtanδ)、Q

测量量程

100mΩ~100MΩ12档量程(所有参数由Z确定)

显示范围

ZYRsRpRdcXGBLsLpCsCp±0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅ZY显示值
θ±0.000°~999.999°),D±0.000000~9.999999
Q±0.00~99999.99),%±0.0000%~999.9999%

基本精度

Z±0.08%rdg. θ±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz10mHz~100Hz步进)

测量信号电平

V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms10μA rms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms100kHzFAST,显示OFF,代表值)

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口

EXT I/ORS-232CGP-IBUSB通讯,U盘,LAN

电源

AC90~264V50/60Hz

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用94429593-019446

接口

GP-IBRS-232CEXT.I/O(所有标准)

电源

AC90~264V50/60Hz

体积和重量

330W×119H×307Dmm5.8kg

附件

电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1

 

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