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SAIMR6000中压综合测试系统任意点位编辑文件可导出入
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
11
中压综合测试系统任意点位编辑文件可导出入 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000中压综合测试仪自学习回路快速生成测试文件
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
11
中压综合测试仪自学习回路快速生成测试文件 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000中压综合测试系统 支持扫码测试 定制打印
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
9
中压综合测试系统 支持扫码测试 定制打印标签 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000一站式OS/电阻/绝缘/耐压综合测试系统
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
9
一站式OS/电阻/绝缘/耐压综合测试系统 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR7000中压综合测试仪二/四线制混测高精度
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
9
中压综合测试仪二/四线制混测高精度支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000线束综合测试分布式32点/卡串机扩展至2万点
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
13
线束综合测试分布式32点/卡串机扩展至2万点 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000中压综合测试系统 四线电阻精度10μΩ
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
12
中压综合测试系统 四线电阻精度10μΩ 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR60003000V直流 2000V交流耐压测试系统
更新日期:
2026-07-06
浏览量:
12
3000V直流 2000V交流耐压测试系统 支持DC3000V、AC2000V耐压测试,采用二线与四线制混测技术,四线电阻精度达10μΩ,绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构,单卡32测试点,串机可扩展至20000点以上,一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能,可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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